中测

王朝百科·作者佚名  2010-04-18
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一般来说在IC生产领域中,有“中测”这个常用词,中测就是指在生产出圆片(wafer)后,可以用专门的设备(探针台、测试仪等)上,进行测试,当然测试仪这个需要编程、调试的,测试过程中,探针台可以在圆片上打上标记(白点或黑点),也就是“打点”,标记出坏的芯片,也能记录在电脑中,也就是MAP。

因此,经过减薄、贴膜、划片后,如果是用在自动封装线上时,输入MAP数据后,就可以自动封装,不需要人工干预了。

如果没有经过中测这个工序,没有打点的标记,就不知道你取出的芯片(die)是好还是坏了。

至于成品率多少,这与设计的水平及生产线的工艺水平有关,不好说,如果是超大规模的集成电路,成品率可能只有60%,甚至更低,如果是规模很小的IC,可能达到95%,甚至更高。

 
 
 
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