检验平台规格：200×200-2000×4000(特殊规格根据需方图纸制作或双方商定生产加工) 。
检验平台用途：适用于各种检验工作，精密测量用的基准平面；用于机床机械检验测量基准；检查零件的尺寸精度或形为偏差，并作紧密划线，在机械制造中也是不可缺少的基本工具。
检验平台表面质量检验：用涂色发检验。0级1级平板在每边为25毫米平方的范围内不少於25点，2级不少於20点，3级不少於12点。
检验平台精度：按国家标准计量检定规程执行，分别为0，1，2，3级四个级别。
检验平台材料：高强度铸铁HT200-300，
检验平台工作面硬度：HB170-240
检验平台表面质量检验：用涂色发检验。0级1级平板在每边为25毫米平方的范围内不少於25点，2级不少於20点，3级不少於12点。
检验平台与划线平台的功能区别：
检验平台是为生产车间或计量部门做精密测量用的基准平面；而划线平台是为生产中做划线用的基准平面。
虽然这两种平板都是基准平面，但是他们的加工方法、平面精度、功能作用是不同的。
专用于涂色法的检验平台工作面需刮研 ；其他用途的检验平台工作面需刮、磨或研；划线平板面刨光即可。由此可见，检验平台的平面精度高于划线平板。
检验平板在以涂色法检测工件平直度或作为检验工作的辅助工具实现各种测量时起到了基准定位面作用；划线平台在划线工作中起到了基准面作用。
检验平台与划线平台的特性是什么？
检验平台在几何量测量中，用模拟方法来体现基准直线，目前使用的平尺，较多的是铸铁平心和岩石平尺。铸铁平台用刮制法加工测量面，它的测量面能储存润滑油和容纳灰悄，增加了基准使用的平稳性、可靠性。岩石平尺有耐磨、稳定且使用更方便的优点。
检验平板,检验平台平面度公差（um）
1级 10 12 12 12 12 14 14 16 16 16 18 20 20 24 26 28 32
2级 20 24 24 24 24 28 28 28 32 32 32 36 39 40 48 52 56 64 70 74 88 79
3级 50 60 60 60 60 70 70 70 80 80 80 90 96 100 120 130 140 152 174 184 219 186 237 255 292 308
检验平台的详细技术参数：规格（长×宽）mm
精度等级
0
1
2
3
平面度公差(μm)
200×200
5
10
20.5
200×300
5.5
11
22
300×300
5.5
11
22
300×400
6
12
24
400×400
6.5
12.5
25
400×500
6.5
13
26
66
500×500
6.8
14
28
68
400×600
7
14
27.5
70
500×600
7
14.2
28.5
71
500×800
8
15.5
31
78
600×800
8
16
32
80
1000×750
9
18
36
90
1000×1000
10
20
40
97
1000×1200
10
20.5
41
103
1000×1500
11
22
45
112
1000×2000
26
52
130
1500×2000
28
56
140
2000×2000
31
61
153
2000×2500
34
67
168
1500×3000
35
70
174
2000×3000
37
74
184
2000×4000
44
88
219
检验平板工作面的平面度检验平板工作面的平面度是指包容平板实际工作面且距离为最小的两平行平面间的距离，其值可按对角线法、环线法的检定结果进行“基面变换”求得。平板工作面的平面度是衡量平板质量的主要精度指标。按平板工作面平面度的公差允许值确定出平板准确级别，因此必须重视平板工作面平面度的检定。平板平面度检定的准确度是平板使用质量的保证。线点布置、重合度、检定工具检定的不确定度、检定方法、评定原则、数据处理是平板平面度检定准确度的关键。平板工作面平面度检定时注意这些问题，有助于检定质量的提高。
检验平板检定条件与要求一、温度与温度变化平板检定对温度有何要求。检定增加了00级平板给定温度（20±3）℃要求，要求00级、0级平板检定温度变化不得超过1℃/h。要求平板检定地点的温度在表规定的范围内检定温度表.
平板准确度级别
温度 /℃
温度变化
00级
20±3
≤1℃/h
0级
20±5
1级
2级
3级
20±8
检定前，检定工具在检定地点平衡温度的时间不少于4h，被检定平板在检定地点平衡温度的时间应符合下表规定
平衡温度时间表
平板种类
平板规格
≤1600mm×1600mm
＞1600mm×1600mm
平衡温度的时间
铸铁平板
≥8
≥12
岩石平板
≥12
≥24
检验平板平面度的原始数据通常把测量得到的相对测量基面的距离称为平面度误差的原始数据。当测量基面与评定基面方位一致时，即可用此原始数据按评定原则求得平面度误差值；但当测量基面与评定基面方位不一致时，需对原始数据进行数据处理，以确定出评定基面的具体方位，从而求出平面度误差值。
如果评定时所依据的评定原则不符合平面度误差定义，那么由此得到的平板平面度误差必须用最小条件原则加以处理（即重新评定）以后，才能得到符合要求的平面度误差值。也就是说原先评定的结果作为后一评定时的原始数据。对角线原则、环线法原则获得的平面度误差值不符合最小条件的要求，因此通常把用对角线原则、环线法原则得到的相对测量基面的距离作为最小条件原则评定平面度误差的原始数据。
