名词解释：
开短路测试（又称OPEN/SHORT 测试，O/S测试），主要是用于测试电子器件的连接情况，顾名思义，开短路测试就是测试开路与短路，具体点说就是测试一个电子器件应该连接的地方是否连接，如果没有连接上就是开路，如果不应该连接的地方连接了就是短路。
用途：
开短路测试应用非常的广泛，例如：测试PCB板，测试IC邦定线，测试IC的封装，测试线材，测试FPC，测试薄膜开关，测试连接器等等，不同的应用又有比较特别的需求，例如，测试PCB板是不仅要测试开短路，还要测试漏电，测薄膜开关还要测试连线的电阻值；对于线材测试仪，比较精密的线材根据要求，有些也要测试漏电与阻值及其他的要求，由于这些测试不仅要测试开短路，还要测试其他的参数，因此都有专用的仪器，如ICT，薄膜开关测试仪，线材测试仪等。
词意变化：
如果没有特别的指出，所谓的开短路测试，都是指测试邦定线的开短路测试，IC的开短路测试，例如“开短路测试仪”指的就是测试邦定/IC开短路的仪器，当然所处的行业不同，在不同的行业中，说开短路测试就是指的这个行业的产品的开短路测试，如果是一间PCB厂，说要进行开短路测试，指的就是测试PCB的线路的开短路，不能理解成测试测试IC的开短路了！
