脉冲形状鉴别法[1]在用某些闪烁体进行粒子测量时可用此方法。其原理是:带电粒子在闪烁体中激发荧光,荧光的衰减时间与致激发的带电粒子种类有关(见闪烁计数器)。例如,脱氧有机闪烁体中质子激发的荧光衰减时间比电子激发的长得多。这样,闪烁计数器在探测质子时给出慢脉冲信号。而探测电子时却给出快脉冲信号。利用脉冲形状鉴别电路,可将质子事件与电子事件区别开。典型的例子是n-γ分辨技术,它常常被用来在伴有强γ辐射的条件下进行中子测量。
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脉冲形状鉴别法[1]在用某些闪烁体进行粒子测量时可用此方法。其原理是:带电粒子在闪烁体中激发荧光,荧光的衰减时间与致激发的带电粒子种类有关(见闪烁计数器)。例如,脱氧有机闪烁体中质子激发的荧光衰减时间比电子激发的长得多。这样,闪烁计数器在探测质子时给出慢脉冲信号。而探测电子时却给出快脉冲信号。利用脉冲形状鉴别电路,可将质子事件与电子事件区别开。典型的例子是n-γ分辨技术,它常常被用来在伴有强γ辐射的条件下进行中子测量。