图书信息
书 名: 电子元器件可靠性设计
作者：王蕴辉 孙再吉
出版社：科学出版社
出版时间： 2007年09月
ISBN: 9787030196385
开本： 16开
定价: 49.90 元
内容简介为使我国电子元器件可靠性技术的研究和应用迈向一个新台阶，促进元器件固有可靠性水平的提高，我们组织国内重点元器件研制生产单位长期从事元器件设计的专家，在总结多年可靠性工作经验的基础上，密切结合我国元器件的实际情况，编写此书，呈现给读者。
本书共分9章，内容涉及电子元器件可靠性设计的一般要求；单片集成电路可靠性设计；混合集成电路可靠性设计与控制；半导体分立器件可靠性设计；连接器可靠性设计；继电器可靠性设计；电容器可靠性设计；微特电机可靠性设计；声表面波器件可靠性设计等。本书内容全面，翔实，涵盖电子元器件可靠性设计和控制所必需的基本技术与方法。另外，对各类元器件均给出了应用实例。
本书既可作为电子元器件研制、生产单位的培训教材，也可作为高等院校研究生、本科生的参考教材，同时也可供广大工程技术人员参考。
图书目录第1章 电子元器件可靠性设计的一般要求
第2章单片集成电路可靠性设计
第3章混合集成电路可靠性设计与控制
第4章半导体分立器件可靠性设计
第5章连接器可靠性设计
第6章继电器可靠性设计
第7章电容器可靠性设计
第8章微特电机可靠性设计
第9章声表面波器件可靠性设计
后记