图书信息
书 名: 集成电路系统设计、验证与测试
作者：(美国)(LouisScheffer)译者:陈力颖
出版社：科学出版社
出版时间： 2008年06月
ISBN: 9787030214904
开本： 16开
定价: 62.00 元
内容简介本书是“集成电路EDA技术”丛书之一，内容涵盖了IC设计过程和EDA，系统级设计方法与工具，系统级规范与建模语言，SoC的IP设计，MPSoC设计的性能验证方法，处理器建模与设计工具，嵌入式软件建模与设计，设计与验证语言，数字仿真，并详细分析了基于声明的验证，DFT，而且专门探讨了ATPG，以及模拟和混合信号测试等，本书还为IC测试提供了方便而全面的参考。
本书可作为从事电子科学与技术、微电子学与固体电子学以及集成电路工程的技术人员和科研人员即以高等院校师生的常备参考书。
图书目录第1部分 介绍
第1章 引言
第2章 IC设计流程和EDA
第2部分 系统级设计
第3章 系统级设计中的工具和方法
第4章 系统级定义和建模语言
第5章 SoC基于模块的设计和IP集成
第6章 多处理器的片上系统设计的性能评估方法
第7章 系统级电源管理
第8章 处理器建模和设计工具
第9章 嵌入式软件建模和设计
第10章 利用性能指标为IC设计选择微处理器内核
第11章 并行高层次综合：一种高层次综合的代码转换方法
第3部分 微机系结构设计
第12章 周期精准系统级建模和性能评估
第13章 微机系结构的功耗估计和优化
第14章 设计规划
第4部分 逻辑验证
第5部分 测试
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