图书信息
书 名: 超大规模集成电路测试
作者：雷绍充 梁峰
出版社：电子工业出版社
出版时间： 2008年05月
ISBN: 9787121063077
开本： 16开
定价: 45.00 元
内容简介VLSI测试与可测性设计方法学已甄成熟，诸多理论和方法也为设计和制造界广泛接受，亦成为EDA工具的基本特征。本书系统化编撰迄今为止主流的方法学与结构，为读者进行更深层次的电路设计、模拟、测试和分析打下良好的基础，也为电路（包括电路级、芯片级和系统级）的设计、制造、测试和应用之间建立一个相互交流的平台。
本书主要内容包括电路测试基础，验证、模拟和仿真，自动测试生成，专用可测性设计，扫描设计，边界扫描法，随机测试和伪随机测试，内建自测试，电流测试，存储器测试，SoC测试。
本书既可作为高等院校高年级学生和研究生的专业课教材，也可作为从事集成电路设计、制造、测试、应用EDA和ATE专业人员的参考用书。
图书目录第1章 概述
第2章 电路测试基础
第3章 验证、模拟和仿真
第4章 自动测试生成
第5章 专用可测性设计
第6章 扫描设计
第7章 边界扫描法
第8章 随机测试和伪随机测试
第9章 内建自测试
第10章 电流测试
第11章 存储器测试
第12章 SoC测试
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