单粒子翻转（SEU）：Single Event Upset
在一些电磁、辐射环境比较恶劣的情况下，大规模集成电路(IC)常常会受到干扰，例如宇宙中单个高能粒子射入半导体器件灵敏区，使器件逻辑状态状态翻转：原来存储的"0"变为"1"，或者"1"变为"0"，从而导致系统功能紊乱，严重时会发生灾难性事故。SEU造成的逻辑错误不是永久性的，也被称为软错误。
最容易发生SEU的是像RAM这种利用双稳态进行存储的器件，其次是CPU，再其次是其它的接口电路。随着芯片集成度的增加，发生SEU错误的可能性也在增大。在特定的应用中，SEU已经成为一个不能忽视的问题。
典型的SEU易发环境是空间电子应用领域，由于太空中高能粒子的轰击，SEU已经成为星载计算机中最常见的错误。