X射线荧光就是被分析样品在X射线照射下发出的X射线，它包含了被分析样品化学组成的信息，通过对上述X射线荧光的分析确定被测样品中各组份含量的仪器就是X射线荧光分析仪。
简介
不同元素发出的特征X射线能量和波长各不相同，因此通过对X射线的能量或者波长的测量即可知道它是何种元素发出的，进行元素的定性分析。同时样品受激发后发射某一元素的特征X射线强度跟这元素在样品中的含量有关，因此测出它的强度就能进行元素的定量分析。
因此，X射线荧光光谱仪有两种基本类型：波长色散型（WDEXRF）和能量色散型（EDXRF）。
两种仪器原理图
用途
为了满足现代企业管理和生产要求，必须对生产过程中的原材料的化学成分进行及时、准确的分析和控制，传统的化学分析方法已经完全不能满足生产过程的需要；目前众多新型冶炼企业为了达到良好的质量控制指标，大都配备了相应的分析仪。由于化学分析方法分析速度的限制，实际上，采用化学分析方法对于生产过程来说只有事后监测的意义，而没有控制意义，往往是当我们发现某个控制环节有问题时，已经造成了严重的后果，给工厂带来了很大的损失。
工作原理
荧光，顾名思义就是在光的照射下发出的光。
从原子物理学的知识我们知道，对每一种化学元素的原子来说，都有其特定的能级结构，其核外电子都以各自特有的能量在各自的固定轨道上运行，内层电子在足够能量的X射线照射下脱离原子的束缚，成为自由电子，我们说原子被激发了，处于激发态，这时，其他的外层电子便会填补这一空位，也就是所谓跃迁，同时以发出X射线的形式放出能量。由于每一种元素的原子能级结构都是特定的，它被激发后跃迁时放出的X射线的能量也是特定的，称之为特征X射线。通过测定特征X射线的能量，便可以确定相应元素的存在，而特征X射线的强弱（或者说X射线光子的多少）则代表该元素的含量。
量子力学知识告诉我们，X 射线具有波粒二象性，既可以看作粒子，也可以看作电磁波。看作粒子时的能量和看作电磁波时的波长有着一一对应关系。这就是著名的普朗克公式：E=hc/λ。显然，无论是测定能量，还是波长，都可以实现对相应元素的分析，其效果是完全一样的。
国产代表产品
CIT-3000SM能量色散X荧光分析仪
制造商：四川新先达测控技术有限公司
仪器基本特点
1、采用X光管激发--分析元素多（Mg-U全部元素）
2、采用进口电致冷半导体探测器--分析精度高
3、采用多道（2048）脉冲分析器--实现多元素同时分析
4、同时显示和观测谱线、多窗口工作、类型自动识别、自动解谱、自动给出测量结果--操作简单
5、可测量粉状、块状、液体状样品--制样简单、方式多样
6、国土资源部专家鉴定，评审结果：仪器总体性能处于国内领先水平，部分指标达到国际先进水平
7、无损检测，物理分析，不破坏贵重物品检测。
8、性价比高：分析成本低，整机价格不到进口设备的三分之一
9、多层屏蔽保护，辐射安全可靠（辐射剂量仅为15usv/h，国家要求＜25usv/h）
10、取得国家计量仪器生产许可证，被科技部列为“九五”国家科技成果重点推广项目，授予“国家重点新产品”称号
主要技术性能及参数：
1、分析元素：Mg、Al、Si、P、Ti、V、Ca、Fe、Mn、 Pb、Zn、Sn、Sb、As等。
2、探测器分辨率：150—180eV（55Fe）
3、分析范围：1ppm-99.99%
4、测量范围：2—20kev
5、测量时间：＜200秒
6、重复性：<5%
7、稳定性：<0.05%
8、辐射剂量：<25usv/h
9、整机功耗：300W
