IC卡检测仪X射线IC卡检测仪X射线IC卡检测仪是使用X射线技术对IC卡进行检测的一种设备，它通过发生X射线，对IC卡进行射线照射，再由设备的成像探测器接收经过照射并穿过IC卡后的X射线，并通过计算机呈现黑白的透视检测画面。
专用的X射线IC卡检测仪目前业内有HSCreate(恒胜创新)的BJI-G型。
X射线IC卡检测仪用途：检测IC磁卡内部的电路、芯片内部焊点、内部导体结构。 IC卡检测仪参数
型号
HSCreate BJI-G
管电压
70kV
管电流
0.4mA
分辨率
227Lp/cm
像元尺寸
1628*1228px
灰度等级
4600级
功率
70W
IC卡扭弯测试仪 IC卡扭矩测试仪 IC卡弯曲测试仪 IC卡弯曲试验机 IC卡试验机 IC卡弯曲性能测试机IC扭矩测试仪本仪器针对性IC卡在国标16649.1等试验标准中的弯曲、扭矩的试验;外形尺寸：L670 X W380 X H220
本仪器针对性IC卡在国标16649.1等试验标准中的弯曲、扭矩的试验;
外形尺寸：L670 X W380 X H220
仪器重量：70kg
电 压：AC220V±5%
功 率：35W
测试速度：弯曲 29r/min
测试周期：1~999次
扭曲度 ：15°±1° 双向