基本信息书名:电子元器件可靠性试验工程
图书编号:1072066
出版社:电子工业出版社
定价:58.0
ISBN:712100965
作者:罗雯/魏建中/阳辉等编
出版日期:2005-03-01
版次:1
开本:小16开
简介本书包括了电子元器件可靠性试验的各主要类别：环境试验（包括13类环境和综合环境试验）；寿命试验和加速寿命试验；鉴定试验；极限应力试验；可靠性筛选试验；可靠性增长试验。
各试验类别包括了原理、理论模型、试验设计、实施程序、设备要求、关键技术及试验示例等并介绍了相关的可靠性基础知识和数理统计方法，提供了元器件失效分析和破坏性物理分析方法、程序及其关键性技术，使用状态中元器件失效预测技术。
本书可作为高校教师、研究生、本科生及从事可靠性研究的工程技术人员工作的参考书。
目录第1章概论
1.1可靠性术语和参数
1.2电子元器件的可靠性表征
1.3可靠性试验的目的和分类
1.4可靠性试验技术的发展
参考文献
第2章可靠性数学及应用
2.1寿命分布
2.2抽样检验
2.3试验数据的处理方法
参考文献
第3章寿命试验
3.1寿命与应力的关系
3.2指数分布寿命试验
3.3加速寿命试验
3.4寿命试验中的一些技术问题
参考文献
第4章环境试验
4.1概述
4.2气侯环境试验
4.3机械环境试验
4.4水浸渍试验
4.5低气压试验
4.6太阳辐射试验
4.7电离辐射试验
4.8盐雾腐蚀试验
4.9霉菌试验
4.10沙尘试验
4.11地震试验
4.12声震试验
4.13运输试验
4.14天然环境试验
4.15综合环境试验
参考文献
第5章极限应力试验
5.1极限应力试验的概念
5.2进行极限应力试验的目的和作用
5.3极限应力试验的电参数测试
5.4极限应力试验的程序
5.5极限应力试验方法
5.6案例
参考文献
第6章电子元器件鉴定试验
……
第7章可靠性筛选试验
第8章可靠性增长试验
第9章元器件失效分析和失效机理
第10章破坏性物理分析（DPA）
第11章使用状态中元器件失效预测技术
第12章试验数据信息智能化管理系统（LIMS）
参考文献[1]
