百科名片作/译者：曹春娥、顾辛勇
出版社：武汉理工大学出版社
出版日期：2001年11月
ISBN：9787562917649 [十位:7562917647]
页数：230 重约：0.334KG
定价：￥40.00
内容提要：本书主要介绍了目前最常用的X射线衍射分析、电子显微镜分析和热分析三种测试技术以及这三种测试技术的应用。
图书目录：第一篇 X射线衍射分析
第一章 X射线物理学基础
第二章 X射线衍射的几何条件
第三章 X射线衍射线束的强度
第四章 X射线衍射的主要仪器和方法
第五章 衍射线的指标化及晶胞参数的精确测定
第六章 X射线物相分析
第七章 X射线衍射分析在无机材料中的应用
第二篇 电子显微分析
第八章 电子光学基础
第九章 透射电子显微镜
第十章 扫描电子显微镜
第十一章 电子探针X射线显微分析
第十二章 电子显微分析在无机材料中的应用...