恒星干涉仪

恒星干涉仪[1]：利用十涉原理测量恒星角直径和双星角距离的光学仪器。分辨本领极高。有相位相关十涉仪和强度十涉仪两种。它具有极高的分辨本领。1920年,迈克耳孙最先设计了一架恒星干涉仪,能测量到0奖02的角度。如图所示，恒星的光被平面镜B、B、A、A反射到望远镜里；若恒星是点光源，在望远镜焦平面P上，星像是B镜圆孔衍射和双光束干涉迭加的图样。对于双星则应有两组图样。调节距离D,当两组干涉条纹互相抵消时，双星的角距就等于λ/2D,λ是星光的有效波长。对于角直径为β的恒星圆面，当条纹消失时,β=1,22λ/D。这种干涉仪叫作相位相关干涉仪。后来制成另一种恒星干涉仪，叫作强度干涉仪。它用两架距离 200米的大口径组合光学望远镜代替上述两块 B镜，用光电倍增管接受星光。光电倍增管接受到的信号强度是相关的。改变两架望远镜间的距离，可把观测的结果归算为恒星的角大小。这种仪器的分辨角小到0奖0004。由于需要大量的光子才能获得有意义的相关性，所以,即使采用口径大到6米的望远镜，也仅能观测亮于2等的恒星。

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