当照射原子核的X射线能量与原子核的内层电子的能量在同一数量级时,核的内层电子共振吸收射线的辐射能量后发生跃迁,而在内层电子轨道上留下一个空穴,处于高能态的外层电子跳回低能态的空穴,将过剩的能量以X射线的形式放出,所产生的X射线即为代表各元素特征的X射线荧光谱线。其能量等于原子内壳层电子的能级差,即原子特定的电子层间跃迁能量。只要测出一系列X射线荧光谱线的波长,即能确定元素的种类;测得谱线强度并与标准样品比较,即可确定该元素的含量。由此建立了X射线荧光光谱 (XFS)分析法。
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当照射原子核的X射线能量与原子核的内层电子的能量在同一数量级时,核的内层电子共振吸收射线的辐射能量后发生跃迁,而在内层电子轨道上留下一个空穴,处于高能态的外层电子跳回低能态的空穴,将过剩的能量以X射线的形式放出,所产生的X射线即为代表各元素特征的X射线荧光谱线。其能量等于原子内壳层电子的能级差,即原子特定的电子层间跃迁能量。只要测出一系列X射线荧光谱线的波长,即能确定元素的种类;测得谱线强度并与标准样品比较,即可确定该元素的含量。由此建立了X射线荧光光谱 (XFS)分析法。