研究称手机缺陷或致脑癌 无害论是一面之词

王朝数码·作者佚名  2009-08-27
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8月27日消息 国际电磁辐射调查机构日前向政府递交的文件表明,手机的设计中存在的缺陷可能导致对用户大脑的损害。

报告的结论表明:“手机用户有显著的脑癌风险。”在此之前的无害言论,完全基于政府和产业的一面之词,建立在EMR毫无生物影响的前提下。而手机设计的缺陷确实有可能对用户的健康造成损害。(文/李远)

 
 
 
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