缺陷密度度量(DD) 是除了代码行(LOC)度量之外在业界应用最广的度量方法之一。缺陷密度度量定义如下：
DD =
Defects
(K)LOC
Defects是软件发行以后一段时间（一般6个月）缺陷的数目。这里我们将不讨论实际应用中的度量问题。下面的图表可以说明使用DD度量时的效果。
Version 1
Version 2
#
Defects
LOC
Defects/LOC
Defects
LOC
Defects/LOC
Relation
1
12
777
0.01544
3
55
0.05455
<
2
5
110
0.04545
6
110
0.05455
<
3
2
110
0.01818
3
110
0.02727
<
4
3
110
0.02727
4
110
0.03636
<
5
6
1000
0.00600
70
10000
0.00700
<
Sum
28
2107
0.01329
86
10385
0.00828
>
表1:缺陷密度度量行为。版本1与版本2缺陷密度度量的对应关系
假设，我们有两个程序版本，版本1和版本2，并且每个版本包含5个模块。对每个版本我们考察它的缺陷密度度量。我们可以看到，版本1的每个模块比版本2的每个模块都有较小的缺陷密度度量。当把每个版本的缺陷数（Defects）与代码行（LOC）数加起来后，我们得到合计行。结果令人吃惊，尽管版本1的每个模块的缺陷密度度量都比版本2的小，但版本1的所有模块的缺陷密度度量却比版本2的大。
问题是：这是怎么发生的？
请看第3讲（ third lecture）给出的结论