硅（锂）X射线探测器系统
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作者： 本社 编
出 版 社：
出版时间： 2008-10-1字数： 38000版次： 1页数： 18印刷时间： 2008/10/01开本： 大16开印次： 1纸张： 胶版纸I S B N ： GB/T13179-2008包装： 平装内容简介
本标准参照了IEC 60759：1983《半导体X射线能谱仪标准测试程序》。
本标准代替GB/T 13179—1991《硅(锂)X射线探测器系统》。
本标准与GB/T 13179—1991相比主要差异如下：
——增加了“硅(锂)X射线探测器系统”和“峰谷比”等19个术语以及“Cc”等12个符号(见本标准第3章)；
——产品的特征代号增加了两位表示灵敏体直径(见本标准的4.1)；
——在表1“硅(锂)X射线探测器系统产品规格表”中，增加了一栏灵敏直径的条目(见本标准的4.2)；
——表1中的能量分辨率每档均降低5 eV(见本标准的4.2)；
——充实了试验方法的内容(见本标准第6章)。
本标准附录A为资料性附录。
本标准由中国核工业集团公司提出。
本标准由全国核仪器仪表标准化技术委员会归口。
本标准起草单位：中核(北京)核仪器厂。
本标准主要起草人：殷国利。
本标准所替代标准的历次版本发布情况为：GB/T 13179～1991。
目录
前言
1 范围
2 规范性引用文件
3 术语和定义以及符号
4 产品分类
5 技术要求
6 试验方法
7 检验规则
8 标识、包装、运输、贮存
附录A(资料性附录) 从X能量分辨率计算电噪声近似值的方法
参考文献
图1 端帽尺寸图
图2 总体外型结构图
图3 被测特性的基本测量系统
图4 典型的噪声测量脉冲幅度谱
图5 用示波器和均方根电压表测噪声的测量系统
图6 线性的测量和表示
图7 温度效应的测量系统(以能谱仪为例)
表1 硅(锂)x射线探测器系统产品规格表
表2 (真空)冷室及端帽分类
表3 不同灵敏面积探测器的峰谷比要求
表4 参考条件和标准试验条件
表5 测量常用放射源
表6 检验项目分类及要求
表7 抽样方案表