数字系统测试
分類: 图书,其他,
基本信息·出版社:电子工业出版社
·页码:704 页
·出版日期:2007年
·ISBN:9787121045424
·条形码:9787121045424
·包装版本:2007年6月第1版
·装帧:平装
·开本:16开
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内容简介在半导体集成电路的设计与制造过程中,测试的重要性越来越突出,有关数字系统测试方面的书籍也不断出现,本书是这些书籍中内容十分全面丰富的一本。本书系统地介绍了数字系统测试相关方面的知识,包括基础内容方面的自动测试向量生成、可测性设计、内建自测试等,高级内容方面包括IDDQ测试、功能测试、延迟故障测试、CMOS测试、存储器测试以及故障诊断等,并论述了最新的测试技术,包括各种故障模型的测试生成、集成电路不同层次的测试技术以及系统芯片的测试综合等,其内容涵盖了当前数字系统测试与可测试性设计方面的基础知识与研究现状等。
本书可作为高等学校计算机、微电子、电子工程等专业的高年级本科生和研究生的教材与参考书,也可供从事相关领域工作,特别是集成电路设计与测试的科研与工程技术人员参考。
作者简介Niraj Jha是普林斯顿大学电气工程系的教授,同时是嵌入式系统芯片设计中心的负责人,他目前的研究工作集中在嵌入式系统芯片的综合与测试方面。他是IEEE会士,《IEEE VLSI系统学报》(IEEE Transactions on VLSI Systems)和《电子测试:理论与应用杂志》(Journal of Electronic Testing: Theory and Aplications, JETTA)的副主编,同时因研究工作出色是美国电报电话公司(AT&T)基金奖和日本电器公司(NEC)导师奖的获得者。
编辑推荐在半导体集成电路的设计与制造过程中,测试的重要性越来越突出,有关数字系统测试方面的书籍也不断出现,本书是这些书籍中内容十分全面丰富的一本。本书系统地介绍了数字系统测试相关方面的知识,包括基础内容方面的自动测试向量生成、可测性设计、内建自测试等,高级内容方面包括IDDQ测试、功能测试、延迟故障测试、CMOS测试、存储器测试以及故障诊断等,并论述了最新的测试技术,包括各种故障模型的测试生成、集成电路不同层次的测试技术以及系统芯片的测试综合等,其内容涵盖了当前数字系统测试与可测试性设计方面的基础知识与研究现状等。
本书可作为高等学校计算机、微电子、电子工程等专业的高年级本科生和研究生的教材与参考书,也可供从事相关领域工作,特别是集成电路设计与测试的科研与工程技术人员参考。
目录
第1章绪论
1.1故障及其表现
1.2故障分析
1.3测试分类
1.4故障覆盖率要求
1.5测试经济学
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