作者：王彦
科利登系统(Credence System)公司混合信号及无线部门副总裁及总经理Larry Dibattista有理由掩饰不住内心的喜悦：在2006年3月份上海举行的Semicon China大会上，这位远道而来的科利登系统公司高管人员表示，在推出Sapphire D-10半年左右的时间里，该公司正在逐步取得成功。“如果说6个月前我们还只是有一个想法的话，那么现在已经有大量的客户来证明Sapphire D-10是如何的优秀了。”Dibattista表示，“全世界已经有50多台Sapphire D-10正在被广泛使用。”
凭借低成本高性能的Sapphire D-10测试平台，科利登正在加速其市场前进的步伐。4月份，来自这家公司的最新消息称，位于德国Stuttgart和Hanover的Microtec GmbH测试实验室已经采用了Sapphire D-10测试系统来进行多媒体音视频数字和混合信号芯片以及工业上的一些高电压芯片的测试工作。事实上，自新年以来，Sapphire D-10已经将香港科技园和QuickLogic等机构和公司成功拉入客户名单。此外，该公司还透露，有两家公司中国本土公司采用了Sapphire D-10测试系统，其中之一便是珠海矩力。
“进入消费电子时代的半导体公司正面临着两项挑战的考验：日益高涨的芯片需求和无休止的价格下跌。与之相对应，如何保持可扩展的生产能力并且尽可能的进行成本控制成为能否保持竞争力的关键因素。”Dibattista表示，“举例来说，随着产量的飚升，数字音乐播放器以及DTV等产品的价格正在急剧下跌。”
Sapphire D-10测试平台的出现为半导体厂商克服上述两项挑战带来可能。在进行了一系列的并购、特别是将恩浦科技(NPTest)收入旗下之后，科利登系统公司得以将其在消费类混合信号、闪存和电可擦只读存储器、汽车电子以及线性和无线应用中的优势技术整合在一起。据称，除了高速数据处理能力之外， Sapphire D-10还首次将单管脚的测试成本控制在500美元以下，这为MCU、显示驱动以及手机基带芯片以及消费类混合信号器件带来低成本的测试解决方案。
应用革新使得嵌入式MCU的测试面临的困难日益增多。今天，这些急需克服的因素包括多核设计、12V超高电压、DC-AC转换以及算法向量发生器 (APG，用于存储器测试)等多个方面。Dibattista指出：“与MCU相似的是，显示器驱动电路也正在向更高的电压和电流以及功率迁徙。很显然，自动测试的概念已经不再是单纯的工程调试(Engineering Debug)，而是全程测试(Full Test)了。”
对于自动测试设备(ATE)供应商来说，中国已经日益成为一个不得不重视的市场。毫无疑问，科利登赋予Sapphire D-10的产品特性加大了其在中国市场胜算。“Sapphire D-10将关注的重点放在消费类数字和混合类电子产品、需求量极大的MCU和CPLD以及更低的平均销售价格(ASP)上。”Dibattista指出， “这些因素是大多数中国客户最为关心的。”
在距离第一台Sapphire D-10推出半年之后，一些新的特性正在被陆续加入。除了原有的96个通道DPIN卡、为被测器件供电的16通道DPS16卡、以及16通道的4象限电流电压源VIS卡之外，科利登的开发人员还新增了针对混合信号(MXSL)的4差分信号通路，其中包含了数字采样器(DIG)和任意波形发生器(AWG)。由于能够购买一个或任意几个可选器件用以组合，这使客户灵活性得到极大提高。“灵活的架构使得Sapphire D-10为所有测试工程师带来了从调试到最终测试的全套测试工具。”Dibattista表示，“此外，它还拥有卓越的软件处理能力。这对工厂应用来说相当经济和方便。”
下一代Sapphire D-10将继续着眼于进一步提高产品性能。Dibattista透露：“目前我们的晶圆分拣(Wafer Sort)测试速度为200Mbps，未来两年内将提高到800Mbps。此外，单位管脚的处理能力也将从16M提高到128M。”按照每个主板拥有96 个DPIN计算，这将使得每个板的存储介质测试能力从1,536M提高到12,288M。他还表示，Sapphire D-10 开发团队还将进一步提高MXSL通道密度。
