光学层测试主要是光谱测试和误码测试，由于40G传输速率是10G的4倍，传输速率变快，偏振膜色散的要求越来越小，对测量设备的精度要求特别高，仅为以往10G测量设备的四分之一。同时，全光网络的出现又促使了ROADM的发展，以往能够轻松测量的信道比，在40G也尤为艰难。
而在基础的眼图测试上，以往的电示波器也很难达到满足40G以上的测试标准，目前出现带宽最高的电示波器能够达到80Gb，但是为了能够测量40G的眼图，要求示波器有更高的采样速率。
由于测试数据要求的精度越来越高，原有测试方法不再适用，而新的测试方法进展缓慢，令40G测试曾一度困扰产业发展。
产品日益完善
经过这两年的发展，目前厂商提供的40G测试仪表已经基本成熟，能够满足运营商目前的需求。
40GDWDM系统的带内信噪比测试一直是40G网络测试的焦点。目前EXFO、JDSU都推出了具有带内测试的测试仪表，所谓带内测试，是指光信号传输过程中测量能量带内的信噪比，相比以往10G的信噪比测试，更接近真实信噪比。JDSU最先提出了极化分离的办法测试带内信噪比，与JDSU极化分离方法相似，EXFO采用专利偏振偏移方法，使进入测试仪表的光信号和噪声信号分离，之后重整，进而得出真实的信噪比。
而在眼图测试上，EXFO推出的PSO光采样示波器已经推出，高达500G带宽测试，能够轻松应对100G甚至160G的测试。