RFID性能测试

为了统一RFID性能测试的概念与方法，ISO/IEC 18046:2006《信息技术—自动识别和数据采集技术—射频识别设备性能测试方法》[1]中给出了RFID性能测试的一般概念和影响变量，将短距离和长距离RFID设备性能测试中各种自变量对系统性能的影响定义为使用六个因变量来表达，即识别范围（identification range）、识别速率（identification rate）、读范围（read range）、读速率（read rate）、写范围（write range）、写速率（write rate）。该标准的测试对象是RFID系统而非系统中的每个设备，因此可能产生一种后果，即系统中任何一部分的改变都将使测试结果失效，例如更换一种RFID标签后，识别范围就将根据新RFID标签的天线设计发生变化，而读速率也将受到新RFID标签的IC设计影响，原有的测试结果就无法再利用。为了全面获得RFID系统整体的性能参数，只能对不同设备的组合一一进行测试，这将对测试的工作量造成极大的负担。事实上，ISO/IEC 18046中给出的系统性能因变量还可以再分解为系统中每个设备的独立性能指标，以此实现的单品基准测试可以更加准确地表现出设备的性能指标，节省测试的时间和成本，获得更有价值的RFID产品性能数据库。

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