多晶衍射法 diffraction method for polycrystalline
利用晶体对X射线的衍射效应,获得多晶样品的X射线衍射图的方法。该法给出一套基本数据——d-I 值 (衍射面间距和衍射强度)。根据这些数据可进行物相分析、计算晶胞参数、确定空间点阵型式以及测定简单金属和化合物的晶体结构。样品通常为块状或粉末状,若是后者,又称为X射线粉末法。
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多晶衍射法 diffraction method for polycrystalline
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