表面污染测定 第1部分：β发射体（Eβmax0.15MeV）和α发射体
分類: 图书,工业技术,环境科学,环境保护管理,
作者： 本社 编
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出版时间： 2008-10-1字数： 28000版次： 1页数： 14印刷时间： 2008/10/01开本： 大16开印次： 1纸张： 胶版纸I S B N ： GB/T 14056.1-2008包装： 平装内容简介
GB／T 14056《表面污染测定》包括下列3个部分：
——第1部分：β发射体（E0.15 MeV）和α发射体；
——第2部分：氚表面污染；
——第3部分：同质异能跃迁和电子俘获发射体、低能p发射体（E
本部分是GB／T 14056的第1部分，本部分修改采用国际标准IS0 7503.1：1988《表面污染测定——第1部分：p发射体（最大p能量大于0.15 MeV）和a发射体》。
本部分与Is0 7503.1：1988主要技术性差异如下：
——Is0 7503.1：1988引用的其他国际标准中由相应的我国标准代替（见第2章）；
——增加了我国标准中关于表面污染控制水平的规定（4.2.1）。
为便于使用，本部分做了下列修改：
——“IS0 7503的本部分”改为“GB／T 14056的本部分”；
——用小数点“.”代替作为小数点的逗号“，”；
——有的条款的段落增加了条的编号。
本部分代替GB／T 14056--1993《表面污染测定第1部分：p发射体（最大p能量大于0.15 MeV）和α发射体》，本部分与GB／T 14056--1993相比主要变化如下：
——对原文中少数条款的表述进行了修改；
——恢复了GB／T 14056--1993相对于IS0 7503.1：1988删去的部分，包括4.2.3.6的注，5.6的 注3、注4、注5，A.2的最后一款。
本部分的附录A为规范性附录。
本部分由中国核工业集团公司提出。
本部分由全国核能标准化技术委员会（SAC／TC 58）归口。
本部分起草单位：核工业标准化研究所。
本部分主要起草人：高米力，张立波。
本部分所代替标准的历次版本发布情况为：
——GB／T 14056--1993。
书摘插图
4测定表面污染的方法
4.1 总则
表面污染可以通过直接和间接测量方法来测定。直接测量是采用表面污染测量仪和监测仪进行的，这类仪表测定的是可去除的与固定的污染之和。间接测定通常是采用擦拭法进行的，用擦拭法只能测定可去除的表面污染。
测量表面污染的目的：
a） 确定污染物的存在或扩散，并控制它由较高污染区向较低污染区或向非污染区的转移；
b） 测定单位面积上的放射性活度，以证实是否超过表面污染控制水平（导出限值）。
满足上述目的两种测量方法的适用性和可靠性主要依赖于某些特定的情况，也就是：污染物的物理和化学形态；污染物在表面上的粘着性能（固定的或可去除的）；以及对被测量表面是否可接近或是否存在干扰辐射场等。
当表面有非放射性液体或固态的沉淀物或有干扰辐射场存在时，直接测量可能是特别困难的或不可能的。特别是由于场所或相对位置的局限，使直接测量不容易接近污染表面，或者是干扰辐射场严重地影响污染监测仪的工作时，间接方法一般更为合适。但是，间接方法不能测量固定污染，又由于去除因子通常有较大的不确定性，故间接方法一般更多地用于可去除污染的测量。
由于直接方法和间接方法对测量表面污染均存在固有的缺陷，所以在很多情况下，两种方法都采用，以保证测出结果最好地满足测量的目的。
因为仪器效率随能量而变化，所以在测定具有各种能量的p污染时应该特别小心（也见第5章）。
对于显示表面放射性活度的仪器尤其应注意。
4.2表面污染的直接测量
4.2.1对测量仪器的要求
测量仪器的特性和性能应符合于GB／T 5202的要求。
仪器应能测量GB l8871中规定的表面污染控制水平以下的放射性活度，污染测量的结果将与该限值比较。
注：用于表面污染直接测量的仪器通常具有20 cm2～200 Cl'111的灵敏窗，正常本底条件下，可测表面污染水平，对a
发射体低于0.04 Bqcm～，对p发射体低于0.4 Sqcm～。探测器的适用性，不但由仪器效率决定，而且还由灵敏窗的大小而定。对于大面积污染的测量，应采用有较大灵敏窗的探测器。
4.2.2探测程序
4.2.2.1 在探测器灵敏窗和待检查表面避免接触的情况下，将探测器在表面上方慢慢地移动，并监听声频的变化。音响指示是瞬间的并与所采用的响应时间无关。对于数字显示或表头显示的仪表，应密切观察其数字及表头指针的变化。一旦探测到污染区，应把探测器放在这个区域上方，在足够长的时间内保持位置不变，以便进一步确认。
4.2.2.2探测器和被测表面之间的距离应在可行的情况下尽可能的小。为此可采用定位架。
4.2.3测量程序
4.2.3.1 测量时，应遵守所用测量仪器的有关操作规程和要求：
a） 进行测量前应测定被测场所的本底计数率；
b）应经常检查仪器本底计数率；
c）应用合适的检验源校验仪器是否正常，校验频度：经常用的仪器每日校验一次，其他的仪器每次使用前校验，仪器对检验源的读数变化超过土20％时应重新校准；
d） 测量期间的几何条件应与仪器校准时所采用的几何条件尽可能保持一致，为此可采用可移动的定位架；
e） 为了准确地测量，探测器在三倍响应时间（95％的指示值）内应保持固定；
……
