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　　分類: 图书,自然科学,化学,物理化学（理论化学）/化学物理学,

作者： 本社 编

出 版 社：

出版时间： 2009-3-1字数：版次： 1页数： 20印刷时间：开本： 大16开印次：纸张：I S B N ： GB/T22571-2008包装： 平装内容简介

本标准等同采用ISO 15472：2001《表面化学分析——X射线光电子能谱仪——能量标尺的校准》。

为便于使用，本标准对ISO 15472：2001做了下列编辑性修改：

——删除了原国际标准的前言部分；

——将本国际标准改为本标准。

附录A为规范性附录，附录B、附录C和附录D为资料性附录。

本标准由全国微束分析标准化技术委员会提出并归口。

目录

前言

引言

1 范围

2 规范性引用文件

3 符号和缩略语

4 方法概述

5 校准能量标尺的步骤一

附录A（规范性附录） 用一种简单的计算方法对峰结合能作最小二乘法确定

附录B（资料性附录） 不确定度的推导

附录C（资料性附录） 对测得的结合能不确定度的引用

附录D（资料性附录） 用配置单色化Alx射线源的XPS谱仪测量修改型俄歇参数的方法

参考文献

 

 

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