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　　分類: 图书,工业技术,一般工业技术,

作者： 本社 编

出 版 社：

出版时间： 2009-3-1字数：版次： 1页数： 16印刷时间：开本： 大16开印次：纸张：I S B N ： GB/T22586-2008包装： 平装内容简介

本标准等同采用IEC 61788—7：2006《电子性能测量微波频率下超导体的表面电阻》（英文版），在技术内容上与该国际标准一致。为了便于使用，本标准做了下列编辑性修改：

a）用“本标准”代替“本国际标准”。

b）将“IEC／TC 90引言”改为“引言”等有关内容。

c）用小数点“.”代替作为小数的“，”。

本标准的附录A为资料性附录。

本标准由国家超导技术联合研究开发中心和全国超导标准化技术委员会提出。

本标准由全国超导标准化技术委员会归口。

目录

前言

引言

1 范围

2 规范性引用文件

3 术语和定义

4 要求

5 装置

5.1 测试系统

5.2 Rs测试腔体

5.3 介质柱

6 测试步骤

6.1 样品准备

6.2 系统构建

6.3 参考电平的测试

6.4 谐振器频响特性的测试

6.5 超导薄膜的表面电阻Rs、标准蓝宝石柱的e'和tan的确定

7 测试方法的精密度和精确度

7.1 表面电阻

7.2 温度

7.3 样品和支撑结构

7.4 样品的保护

8 测试报告

8.1 被测样品的标识

8.2 Rs值报告

8.3 测试条件报告

附录A（资料性附录） 与第1章～第8章相关的附加资料

参考文献

 

 

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