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　　分類: 图书,电子与通信,基础与理论,测试技术及设备,
　　品牌: 莫瑞达(Samiha Mourad)

基本信息·出版社：机械工业出版社

·页码：296 页

·出版日期：2007年

·ISBN：7111198085/9787111198086

·条形码：9787111198086

·包装版本：第1版

·装帧：平装

·开本：16开

·丛书名：电子与电气工程丛书

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内容简介本书全面阐述了电子系统测试原理，共分为五个部分，第1部分介绍本书的目的、电子产品的缺陷种类、VLSI设计表示与设计流程；第II部分介绍故障模拟、测试码产生及电流测试方法；第III部分讨论易测性设计问题，分别介绍专用技术、路径扫描设计、边界扫描测试和内建自测试技术；第IV部分介绍特殊结构的测试，包括存储器、FPGA和微处理器的测试；第v部分涉及当前电子系统测试领域中的前沿问题，包括如何实现易测试性结构和进行SOC试。

本书可作为电子信息类专业研究生教材和IC测试工程技术人员的参考书。

作者简介Samiha Mourad博士是加利福尼亚圣克拉拉大学电子工程系教授。Yervant Zorian博士是加利福尼亚圣何塞Logic Vision公司的首席技术顾问。

编辑推荐本书全面阐述了电子系统测试原理，共分为五个部分，第1部分介绍本书的目的、电子产品的缺陷种类、VLSI设计表示与设计流程；第II部分介绍故障模拟、测试码产生及电流测试方法；第III部分讨论易测性设计问题，分别介绍专用技术、路径扫描设计、边界扫描测试和内建自测试技术；第IV部分介绍特殊结构的测试，包括存储器、FPGA和微处理器的测试；第v部分涉及当前电子系统测试领域中的前沿问题，包括如何实现易测试性结构和进行SOC试。

本书可作为电子信息类专业研究生教材和IC测试工程技术人员的参考书。

目录

第I部分 设计与测试

第1章 测试综述

1.1 可靠性与测试

1.2 设计过程

1.3 验证

1.3.1 功能模拟

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